企業(yè)簡介
資質(zhì)榮譽
超聲波掃描顯微鏡SAT
X射線X-ray
I/V自動曲線追蹤儀Auto Curve Tracer
酸開封機Decap
激光開封機Laser Decap
微光顯微鏡EMMI（P-100）
EMMI和OBIRCH二合一系統(tǒng)TIVA
雙面探針臺DPW-800
高壓探針臺HPW
8寸探針臺PW-800
6寸探針臺PW-600
經(jīng)濟型6寸探針臺MPW-600
4寸探針臺PW-400
12寸探針臺PW-1200
掃描電鏡SEM
聚焦離子束FIB
金剛石帶鋸切割機Allied Diamond Band Saw
高速精密切割機 Allied TechCut 5™
自動研磨機Allied MultiPrep™
真空鑲嵌機 Allied Tech Press 3™
離子刻蝕機RIE-10NR
離子刻蝕機RIE-1C
O/S測試機
ZEISS顯微鏡
IR紅外顯微鏡
針座MP-10
針座MP-06
針座MP-01
同軸探針桿
三軸探針桿針
軟針（GGB）
硬針（GGB）
RF高頻探針頭（GGB）
公司新聞
行業(yè)動態(tài)
人才招聘
在線留言
聯(lián)系方式
菜單
非破壞性工具
開封工具
漏電定位系統(tǒng)
探針臺
FIB及掃描電鏡
去層研磨鑲嵌
其他設(shè)備
零配件
產(chǎn)品展示
EMMI測試系統(tǒng)又名光發(fā)射顯微鏡，是器件失效分析中漏電定位的重要工具。P-100 EMMI測試系統(tǒng)是儀準科技自有品牌，進入中國已經(jīng)有15年之 …
Semicaps是一家先進的芯片漏電定位設(shè)備制造商，公司產(chǎn)品涵括正置、倒置、靜態(tài)、動態(tài)各種應(yīng)用的機型，世界TOP30的半導(dǎo)體公司很多是他的客 …
021-34638926
Copyright © 2019, 上海儀準電子科技有限公司 滬ICP備16044249號
技術(shù)支持：匯成傳媒
